儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S分析精度5%分析范圍0~50微米

產品應用領域
測量超微小部件和結構,如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動測量,如:用于質量控制領域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標準。

鍍層測厚儀它采用較新技術，具有精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點。其新增加的功能包括：分批組管理數據、多種在線測量模式、多種校準方式等，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場的工作需求，給客戶提供了更多的便利。

x射線測厚儀是一種，以和工業(yè)計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度，已達到要求的軋制厚度。我們主要來介紹一下x射線測厚儀的系統(tǒng)構成方法，希望可以幫助用戶更好的應用產品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個的計算機和高分辨率的彩色?？娠@示整個系統(tǒng)的檢測、設定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數據。維護頁面顯示系統(tǒng)正常工作時各種參數高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質量有關的重要數據如厚差曲線、厚度與長度關系曲線均可打印。技術員能很容易地通過操作終端的報表打印功能，打印出來以顯示可用信息。

天瑞儀器能散X熒光光譜儀在合金中的測試精度如何？
答： 測試屬于測試，完全可以滿足客戶的要求
天瑞儀器能散X熒光光譜儀（簡稱EDXRF）的工作原理是什么？
答： 通過高壓產生電子流打入到X光管中靶材產生初級X光，初級X光經過過濾和聚集攝入到被測樣品產生次級X射線，也就是通常我們所說的X熒光，X熒光被探測器探測到后，經過放大，數模轉換輸入到計算機中，計算機計算出我們需要的結果