分析時間30秒分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾
X射線測厚儀基于X射線的吸收特性來測量材料厚度。XRF分析儀天瑞儀器廠家銅合金分析儀
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天瑞光譜儀手持礦石分析儀生產(chǎn)廠家
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天瑞rohs儀器,天瑞儀器x熒光xrf
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手持式X射線熒光土壤重金屬檢測儀
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金屬鍍層膜厚儀EDX2000AX射線熒光光譜
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天瑞手持式x熒光光譜儀,天瑞儀器合金分析儀x射線熒光光譜儀
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直讀光譜儀天瑞儀器官網(wǎng)
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